はい。当社は、すべての標準テストプローブモデルの小売、小ロットの在庫注文、および大量の卸売を短納期でサポートします。

はい。当社の同軸ポゴピンは、高周波信号テスト用に特別に設計されており、5G、AI、および高性能コンピューティングデバイスの完全な信号整合性を維持します。

当社は、さまざまなパッド設計やテスト要件に合わせて、ドームチップ、シャープチップ、スピアチップ、フラットチップ、段付きチップなどの複数のチップタイプを提供しています。

はい。当社は、自動車および航空宇宙試験装置の高温および低温サイクル環境に適応する、高温耐性のポゴピンおよびガイドピンを提供しています。

当社の通常のテストプローブのほとんどは、2mΩ未満の低い接触抵抗を備えています。高電流のカスタマイズされたプローブは、高精度の電力テストのために 1mΩ 未満の接触抵抗に達することができます。

当社の標準スプリング式テスト プローブは、100 万回を超える圧縮サイクルをサポートします。ハイグレードな工業用プローブは、長期間の繰り返しテストでも安定した接触性能を維持できます。

試験の安定性は、ピンの材質、金メッキの厚さ、接触抵抗、バネの弾性、作動距離によって異なります。高品質の素材と精密な製造により、安定した信号伝送を保証します。

テストプローブは、PCB ICT/FCT テスト、自動車エレクトロニクス、EV バッテリー BMS テスト、半導体パッケージング、5G 通信機器、産業用治具テスト システムで広く使用されています。

当社の主な製品シリーズには、標準スプリング テスト プローブ、大電流ポゴ ピン、ファインピッチ半導体プローブ、同軸高周波プローブ、温度感知プローブが含まれており、ほとんどの電子テスト シナリオをカバーします。

ポゴピンとも呼ばれるバネ式テストプローブは、電気テストに使用される高精度のバネ接触コンポーネントです。 PCB、半導体、産業用試験装置に安定した導電性、柔軟な圧縮、一貫した接触を提供します。