Oo. Sinusuportahan namin ang tingi, maliit na batch na mga order ng stock at maramihang pakyawan para sa lahat ng karaniwang modelo ng test probe na may mabilis na paghahatid.

Oo. Ang aming mga coaxial pogo pin ay espesyal na idinisenyo para sa high-frequency signal testing, na nagpapanatili ng kumpletong integridad ng signal para sa 5G, AI at mga high-performance na computing device.

Nagbibigay kami ng maraming uri ng tip kabilang ang dome tip, sharp tip, spear tip, flat tip at stepped tip upang tumugma sa iba't ibang disenyo ng pad at mga kinakailangan sa pagsubok.

Oo. Nagbibigay kami ng mataas na temperatura na lumalaban sa mga pogo pin at guide pin na umaangkop sa mataas at mababang temperatura ng mga kapaligiran sa pagbibisikleta para sa automotive at aerospace testing equipment.

Karamihan sa aming mga regular na test probe ay nagtatampok ng mababang contact resistance sa ibaba 2mΩ. Maaaring maabot ng high-current customized probe ang contact resistance na mas mababa sa 1mΩ para sa high-precision power testing.

Ang aming karaniwang spring loaded test probe ay sumusuporta sa higit sa 1 milyong compression cycle. Ang mga high-grade na pang-industriyang probe ay maaaring mapanatili ang matatag na pagganap ng pakikipag-ugnay para sa pangmatagalang paulit-ulit na pagsubok.

Ang katatagan ng pagsubok ay nakasalalay sa materyal ng pin, kapal ng gintong plating, resistensya sa pakikipag-ugnay, pagkalastiko ng tagsibol at paglalakbay sa pagtatrabaho. Tinitiyak ng mga de-kalidad na materyales at tumpak na pagmamanupaktura ang matatag na paghahatid ng signal.

Ang mga test probe ay malawakang ginagamit sa PCB ICT/FCT testing, automotive electronics, EV battery BMS testing, semiconductor packaging, 5G communication equipment at industrial fixture testing system.

Kasama sa aming pangunahing serye ng produkto ang mga standard na spring test probe, high-current na pogo pin, fine-pitch semiconductor probe, coaxial high-frequency probe at temperature sensing probe, na sumasaklaw sa karamihan ng mga electronic testing scenario.

Ang spring loaded test probe, na kilala rin bilang pogo pin, ay isang precision spring contact component na ginagamit para sa electrical testing. Nagbibigay ito ng stable na conductivity, flexible compression at pare-parehong contact para sa PCB, semiconductor at pang-industriyang kagamitan sa pagsubok.