SF-PM200 — это подпружиненный испытательный щуп, предназначенный для тестирования печатных плат и электроники, с полным ходом 12,0 мм, усилием пружины 300 г, номинальным током 5 А и контактным сопротивлением 50 мОм.

SF-PH18 — это высокопроизводительный подпружиненный испытательный пробник ICT с током 5 А, усилием пружины 300 г и надежным электрическим контактом для профессиональных задач тестирования печатных плат.

Прецизионный пружинный испытательный щуп SF-P75-J с шагом 1,90 мм, усилием пружины 120 г и номинальным током 3 А, разработанный для надежного контроля электроники и печатных плат.

Прецизионный тестовый пробник с острым наконечником для проверки печатных плат SF-PA100-B с гибким выбором материалов (плунжер из бронзы, латуни или BeCu, позолоченный/никелированный корпус и пружина из нержавеющей стали или музыкальной проволоки) для надежного электронного тестирования.

Штыревой разъем тестового щупа SF-GP6.0*50 с внутренней резьбой и высокопрочным пружинным механизмом обеспечивает надежный электрический контакт и точную механическую стабильность для промышленных испытательных приспособлений.

Этот промышленный направляющий штифт для печатных плат имеет прецизионную подпружиненную конструкцию и прочную конструкцию, что обеспечивает точное выравнивание, плавную стабилизацию и надежное механическое позиционирование электронных испытательных приспособлений.

Направляющий штифт SF-GP5.0x37.5 представляет собой цилиндрический механический крепеж, предназначенный для выравнивания компонентов, повышения устойчивости и точного позиционирования. Он имеет конструкцию из никелированной меди или железа с полным ходом 10,0 мм.

Этот подпружиненный штыревой разъем с пружиной из нержавеющей стали и позолоченной отделкой (Au 15u"/5u" с никелевым покрытием) предназначен для надежной зарядки, передачи данных и тестирования электронных устройств. Он оснащен высокопрочным латунным корпусом, пружиной из нержавеющей стали и позолоченной отделкой (Au 15u"/5u" с никелевой нижней пластиной).

SF-PM200 — это высокопроизводительный подпружиненный испытательный щуп с рекомендуемым минимальным центром 2,54 мм, полным ходом 12,0 мм и надежным номинальным током 5 А, предназначенный для требовательных приложений тестирования устройств ICT и FCT.

Этот многоконтактный штыревой разъем с позолоченными проводящими иглами и несколькими наконечниками предназначен для высоконадежного тестирования печатных плат, межсоединений электронных компонентов и устройств ИКТ.

Позолоченный подпружиненный испытательный щуп для печатных плат P020 имеет несколько вариантов наконечников, низкое контактное сопротивление и исключительную механическую долговечность для приборов для тестирования ICT, FCT и печатных плат с малым шагом.

Компания SFENG предлагает подпружиненные тестовые штыри и аксессуары для пого-штифтов премиум-класса, опираясь на многолетний производственный опыт с 1984 года, предлагая надежные варианты с низким минимальным объемом заказа и решения для прецизионного тестирования для глобальных применений электроники.