Часто задаваемые вопросы

Дом  > Часто задаваемые вопросы

Подписаться

Получайте обновления о новых продуктах по электронной почте

После подтверждения образца массовое производство занимает 7–15 рабочих дней в зависимости от количества заказа и сложности конструкции.

Наша команда обеспечивает бесплатную структурную оптимизацию для улучшения стабильности датчиков, срока службы и точности тестирования в соответствии с болевыми точками вашего приложения.

Да. Мы изготавливаем гнезда для датчиков, розетки, направляющие штифты и детали приспособлений, чтобы обеспечить комплексные решения для компонентов тестирования.

Мы поддерживаем индивидуальное покрытие никель-золотом, твердым золотом и серебром для повышения износостойкости, проводимости и стойкости к окислению.

Да. Мы разрабатываем датчики с малым шагом для шага контактных площадок менее 40 мкм, подходящие для тестирования пластин и проверки корпусов микросхем.

Абсолютно. Мы изготавливаем высокоточные штыри Pogo на 30–250 А со сверхнизким сопротивлением для тестирования EV BMS и силовых полупроводников.

Да. Мы поддерживаем тестирование индивидуальных образцов, мелкосерийное пробное производство и крупномасштабное массовое производство OEM для удовлетворения различных этапов проекта.

Простые индивидуальные зонды занимают 3 рабочих дня. Пробоотбор сложных сильноточных, мелкошаговых и специальных зондов занимает 5–7 рабочих дней.

Да. Наша команда инженеров разрабатывает специальные штифты строго на основе чертежей САПР, технических параметров или физических образцов клиента и обеспечивает бесплатную оптимизацию конструкции.

Мы обеспечиваем полную настройку OEM и ODM нестандартных испытательных щупов, включая индивидуальный размер, ход, усилие пружины, материал, покрытие, номинальный ток и специальную конструкцию конструкции для уникальных сценариев тестирования.

Да. Мы поддерживаем розничные, мелкосерийные и оптовые заказы на все стандартные модели тестовых датчиков с быстрой доставкой.

Да. Наши коаксиальные штыри специально разработаны для тестирования высокочастотных сигналов, обеспечивая полную целостность сигнала для 5G, искусственного интеллекта и высокопроизводительных вычислительных устройств.

Мы поставляем несколько типов наконечников, включая куполообразный, острый, остроконечный, плоский и ступенчатый наконечник, чтобы соответствовать различным конструкциям подушечек и требованиям испытаний.

Да. Мы предлагаем устойчивые к высоким температурам пого-штифты и направляющие штифты, которые адаптируются к циклическим воздействиям высоких и низких температур для автомобильного и аэрокосмического испытательного оборудования.

Большинство наших обычных тестовых щупов имеют низкое контактное сопротивление ниже 2 мОм. Сильноточные специальные датчики могут достигать контактного сопротивления менее 1 мОм для высокоточного тестирования мощности.

Наши стандартные подпружиненные испытательные щупы выдерживают более 1 миллиона циклов сжатия. Высококачественные промышленные датчики могут поддерживать стабильные контактные характеристики при длительных повторных испытаниях.

Стабильность испытаний зависит от материала штифта, толщины позолоты, контактного сопротивления, упругости пружины и рабочего хода. Высококачественные материалы и точное изготовление обеспечивают стабильную передачу сигнала.

Тестовые пробники широко используются при тестировании печатных плат ICT/FCT, автомобильной электронике, тестировании BMS аккумуляторов электромобилей, полупроводниковой упаковке, коммуникационном оборудовании 5G и системах тестирования промышленных приспособлений.

Наша основная серия продукции включает стандартные пружинные щупы, сильноточные пого-контакты, полупроводниковые датчики с малым шагом, коаксиальные высокочастотные датчики и датчики измерения температуры, охватывающие большинство сценариев электронного тестирования.

Подпружиненный испытательный щуп, также известный как штифт Pogo, представляет собой прецизионный пружинный контактный компонент, используемый для электрических испытаний. Он обеспечивает стабильную проводимость, гибкое сжатие и постоянный контакт для печатных плат, полупроводникового и промышленного испытательного оборудования.